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- Diffrattometri a Raggi X per Cristalli Singoli
- Metrologia per semiconduttori TXRF, WDXRF
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Difrattometri XRD
La diffrazione a raggi X di polveri (XRD) permette la determinazione della struttura cristallina dei materiali, l’identificazione delle fasi in un campione e la loro quantificazione ponderale; lo studio dell’amorfo e del grado di cristallinità dei componenti.
Alcune altre applicazioni:
Analisi di film sottili e misura del loro spessore mediante riflettometria nel settore dei semiconduttori e dell’optoelettronica
Analisi di tensioni residue e delle tessiture nelle leghe metalliche
Studi cinetici e di trasformazione di fase con camere a bassa ed alta temperatura
Microdiffrazione con spot fino ad un minimo di 10 micron con generatori ad anodo rotante ad alta brillanza
