Tecniche di Microscopia SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT

La tecnologia TESCAN offre soluzioni complete per i ricercatori in tutti i settori della scienza, dai materiali alla biologia cellulare, dai semiconduttori alla geologia. Tecnologie innovative come il 4DSTEM, la MicroCT Dinamica e i nuovi PlasmaFIB oltre ai SEM FEG ad ultra alta risoluzione aiutano i ricercatori a scoprire i segreti nel campo delle nanostrutture. Assing inoltre è in grado di completare l’offerta di SEM in ambiti particolari con apparecchiature per l’analisi balistica e clean room.

SEM Tescan VEGA

Microscopi SEM Termoionici

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UHR FE-SEM FIB Tescan AMBER

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Gallio

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UHR FE-SEM Tescan MAGNA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM di Classe UHR

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UHR FE-SEM FIB Tescan AMBER X

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Plasma di Xenon

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Bruker Anasys NanoIR3

Soluzioni innovative per la misura di proprietà chimiche e fisiche dei campioni di interesse, con risoluzione spaziale nanometrica

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Sistemi di Microanalisi

Sistemi di microanalisi EDS, WDX, EBSD

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Sonde, Punte e Cantilever AFM

Campioni di Calibrazione & Consumabili

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Bruker Multimode 8-HR

Microscopio a forza atomica più popolare al mondo (migliaia sono le pubblicazioni scientifiche da esso scaturite) con architettura sample-scanning

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Bruker JPK NanoWizard 4 XP

Soluzioni AFM facili da usare per la ricerca su: cellule viventi e tessuti; singola molecola; scienza dei materiali

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Bruker Innova

Microscopio a forza atomica entry level

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Bruker Dimension IconIR

Sistema nanoIR di Bruker

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Bruker Anasys NanoIR3-s

Sistemi nanoIR di Anasys

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Bruker Dimension ICON XR

Il top del top: piattaforma Dimension ICON per studi avanzati di nanoelettrici, nanelettro-chimici e nanomeccanici

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Bruker Dimension Edge

Microscopio a forza atomica basato sulla piattaforma del Dimension ICON

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Microscopi a Forza Atomica per SEM

Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM

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UHR FE-SEM FIB Tescan SOLARIS X

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Plasma di Xenon

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UHR FE-SEM Tescan CLARA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM di Classe UHR

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Tescan UniTOM XL

Micro-CT ad elevatissima versatilità ed elevatissimo throughput

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UHR FE-SEM FIB Tescan SOLARIS

Sistemi UHR FE-SEM FIB con Colonna Ionica al Gallio

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Tescan DynaTOM

µ-CT, dedicato per esperimenti in 4D, con velocità di scansione elevatissime

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Tescan UniTOM HR

Risoluzione sub µm ed elevata risoluzione temporale in una singola µCT

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Tescan CoreTOM

Micro-CT ad elevata versatilità per analisi multi-scala con altissima risoluzione temporale

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FE-SEM Tescan MIRA

Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM

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SEM Tescan VEGA Compact

Microscopi Elettronici SEM VEGA Compact

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