TESCAN MIRA XR
Microscopi ad Emissione di Campo FE-SEM
Il microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA XR di quarta generazione è caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica a tre lenti che consente un’operatività estremamente semplificata rispetto al segmento tecnologico di riferimento.
Tale semplicità ed immediatezza di utilizzo lo rendono uno strumento particolarmente adatto per la caratterizzazione di un’ampia gamma di materiali in laboratori sia di analisi qualità che di ricerca e sviluppo.
Caratteristiche prodotto
- Tipologia emettitore: di tipo Schottky termoassistita
- Risoluzioni: 0,9 nm @ 30 KeV – 1,0 nm @ 15kV – 1,5 nm @ 1 kV
- Rivelatori standard: ET-SE – BSE -Axial SE
- Modalità HV ed LV (opzionale) fino a 500 Pa
- Corrente di sonda: da 2 pA a 400 nA
- Tavolino portacampioni motorizzato su 5 assi
- Camere disponibili: di medie dimensioni (LM) o di grandi dimensioni (GM)
- Ingrandimenti: da 2 X a 1.000.000 X con camera GM
- Software di Gestione EssenceTM con 3D Collision Model
- Dual EDX totalmente integrata con software EssenceTM
Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo TESCAN MIRA XR di quarta generazione, caratterizzato da un’esclusiva architettura della colonna elettronica.
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