Tescan TENSOR
4D STEM
E’ un sistema estremamente automatizzato per la caratterizzazione multimodale delle proprietà morfologiche, chimiche e strutturali su scala nanometrica di materiali funzionali, film sottili e particelle sintetiche, con prestazioni 4D-STEM eccezionali e un’usabilità senza precedenti.
Caratteristiche prodotto
- Near-UHV Scanning Diffraction Transmission Electron
- Microscope (analytical 4D-STEM)
Synchronization of Scanning with
- Diffraction acquisition
- EDS acquisition
- Electron Beam Precession
- Fast Electrostatic Beam Blankin
On the fly 4D-STEM analysis (Explore UI)
- Electron source, Energy alignments
- 100 keV Schottky field-emission source, lifetime 12 months
- guaranteed
- All measurements optimized for 100 kV
- Resolution
- STEM resolution
- 0.28 nm @ 100 kV
- Precession electron diffraction
- Up to 72 kHz precession frequency
- Precession angle range 0.1°- 3°
- Vacuum
- Base pressure in objective chamber: 5e-6 Pa
Sincronizzazione della scansione con l’imaging di diffrazione, l’acquisizione EDS e il blanking del fascio. Analisi ed elaborazione dei dati 4D-STEM integrata in tempo reale. Vantaggi in termini di prestazioni grazie alla precessione del fascio di elettroni e alla quasi-UHV. Un nuovo approccio all’esperienza utente STEM.
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