PHI Genesis
Spettroscopia Fotoelettronica XPS
La spettroscopia di fotoelettroni XPS (ESCA)/ HAXPES è una tecnica di indagine superficiale largamente diffusa con molte applicazioni sia nel mondo della ricerca sia nell’industria.
Caratteristiche prodotto
Il sistema Genesis è l'ultima generazione di prodotti per XPS di PHI, con sorgenti X a+L51 scansione brevettate, monocromatiche, microfocalizzate
- Navigazione tipo SEM
- X-ray induced secondary electron imaging (SXI)
- Automatizzazione completa per alti rendimenti produttivi
- Profili in profondità ottimizzati
- Migliore sensibilità sul mercato per le piccole aree
- HAXPES synchrotron capabilities
- Suite di soluzioni specializzate per la caratterizzazione in situ di materiali avanzati (UPS, LEIPS, REELS, etc.)
Il sistema di spettroscopia fotoelettronica X (XPS/ HAXPES) completamente automatizzata
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