Microscopi a Forza Atomica per SEM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
L’esclusivo microscopio a forza atomica LiteScope è progettato per unire i punti di forza delle tecniche AFM e SEM, ottenendo un flusso di lavoro efficace e ampliando le possibilità della microscopia correlativa e dell’analisi in situ.
Caratteristiche prodotto
- Analisi multimodale e correlativa in situ
- Flusso di lavoro ottimizzato ed efficiente
- Massime prestazioni all'interno del SEM
- Design hardware aperto per una facile personalizzazione
La soluzione per la microscopia correlativa in-situ di ultima generazione
Scopri le specifiche
Approfondisci le caratteristiche del prodotto su
