- Radiologia
- Preclinical
- Strumenti scientifici
- TECNICHE DI MICROSCOPIA SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT
- Consumabili per la Microscopia
- Strumenti per la preparativa dei campioni SEM-FEG SEM-TEM-EBSD
- Micro-CT 3D a Raggi X da banco e pavimento
- DIFFRATTOMETRI XRD
- DIFFRATTOMETRI A RAGGI X PER CRISTALLI SINGOLI
- Diffrattometria ad elettroni
- SISTEMI DI PROCESSO MBE E EBL
- ANALISI CHIMICA SUPERFICIALE XPS, AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY, TOF-SIMS
- METROLOGIA PER SEMICONDUTTORI TXRF, WDXRF
- SPETTROMETRIA DI MASSA ISOTOPICA AD ALTA RISOLUZIONE
- NANOINDENTATORI
- PROFILOMETRI
- TRIBOMETRI
- SPETTROMETRI A RAGGI X
- Sistemi SAXS (Diffusione di Raggi X a basso Angolo)
- Forensic
- Automotive
- Fuel Cell & Hydrogen
- Clean Room
- Formazione
- Service & Validation
Caratteristiche prodotto
Scopri le specifiche
Approfondisci le caratteristiche del prodotto su
