Bruker Anasys NanoIR3-s
Sistemi nanoIR di Anasys
I sistemi nanoIR di Anasys sono particolarmente indicati in tutti quei campi della ricerca scientifica dove si rende necessaria la combinazione tra l’informazione topografica (e/o nanomeccanica) e quella delle proprietà chimiche (e talora ottiche) dei campioni da analizzare (ad esempio: polimeri, film sottili, materiali 2D, compositi, semiconduttori).
Caratteristiche prodotto
- Combina in un’unica piattaforma la tecnica di microscopia s-SNOM e la spettroscopia IR alla nanoscala (AFM-IR) attraverso un microscopio a forza atomica integrato (AFM)
- Imaging topografico AFM e mappatura delle proprietà meccaniche dei materiali con una risoluzione su scala nanometrica
- Fornisce spettroscopia IR su scala nanometrica, imaging chimico e mappatura delle proprietà ottiche con una risoluzione spaziale di 10 nanometri
Aggiunge la caratterizzazione elettrica e ottica su scala nanometrica con la tecnica s-SNOM (scattering Scanning Nearfield Optical Microscopy)
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