Tecniche di Microscopia SEM, TEM, FIB-SEM, AFM, µCT
La tecnologia TESCAN offre soluzioni complete per i ricercatori in tutti i settori della scienza, dai materiali alla biologia cellulare, dai semiconduttori alla geologia. Tecnologie innovative come il 4DSTEM, la MicroCT Dinamica e i nuovi PlasmaFIB oltre ai SEM FEG ad ultra alta risoluzione aiutano i ricercatori a scoprire i segreti nel campo delle nanostrutture. Assing inoltre è in grado di completare l’offerta di SEM in ambiti particolari con apparecchiature per l’analisi balistica e clean room.
Microscopi a Forza Atomica per SEM
Microscopi a Forza Atomica integrati nei SEM per Correlativa C-PEM
Bruker Dimension ICON XR
Il top del top: piattaforma Dimension ICON per studi avanzati di nanoelettrici, nanelettro-chimici e nanomeccanici
Bruker Dimension Edge
Microscopio a forza atomica basato sulla piattaforma del Dimension ICON
Bruker Anasys NanoIR3
Soluzioni innovative per la misura di proprietà chimiche e fisiche dei campioni di interesse, con risoluzione spaziale nanometrica
